Suzuki Y., Kumagai S., Zhou S., Sato R., Watanabe H., Hsu C., Sasaki M., Adachi K., Sugimoto N., Iguchi N., Hioki T., Ichiki A., Motohiro T., Noh J., Sakurahara Y., Okabe K., Takai O., Honma H., Sakoda H., Sasagawa H., Doy H., Hori H., Nishikawa S., Nozaki T.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Takahashi T., Kato T., Hirayama T., Taneda T., Yoshida R., Kuriki R., Yoshizumi M., Shinozaki T.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Takahashi T., Kato T., Hirayama T., Taneda T., Yoshida R., Kuriki R., Yoshizumi M., Shinozaki T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, films epitaxial, IBAD process, YBCO, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.